1、示例工程包含CPU测试、RAM测试（采用4字节，数据备份还原方式测试，支持周期测试）、FALSH测试（采用CRC16，一次测试16个字节，支持周期测试）、Clock测试（采用芯片自带的CSV硬件模块测试，高速CR监控外接高速晶振，低速CR监控外接低速晶振，支持只监控其中一个的配置）；2、硬件板子采用外接8M晶振，软件配置PLL使能，最高工作频率40MHz，硬件板子截图如下：【1】函数uint8_t IEC60730_InitCSV(uint8_t CSV_MCLKMonEn, uint8_t CSV_SCLKMonEn, fcs_mon_info_t FCS_MONInfo)配置里的upper和lower要结合实际的外接晶振设置计算；/*外接8MHz晶振，内部高速CR=4MHz，Consider CR accuracy, count value (operating in -3.0%) = 1/[(4M/512*) × (1 - 0.03)] × 8M= 1024/0.97 = 1056 */upper = (1056 * (100 + FCS_MONInfo.MCLKFreqAccuracy))/100;
/*外接8MHz晶振，内部高速CR=4MHz，Consider CR accuracy, count value (operating in +3.0%) = 1/[(4M/512*) × (1 + 0.03)] × 8M = 1024/1.03 = 994 */
lower = (994 * (100 - FCS_MONInfo.MCLKFreqAccuracy))/100;
4、代码链接：
通过网盘分享的文件：APP_Test_Class-B-2026-1-8.rar
链接: https://pan.baidu.com/s/19Y1nJaJIwSDrPXo-qypF8g
提取码: xwd1
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